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          熱設(shè)計(jì)網(wǎng)

          熱阻仿真與參數(shù)提取

          熱設(shè)計(jì)網(wǎng)


          1、背景與意義


          功率模塊在使用過(guò)程中,設(shè)計(jì)人員會(huì)比較關(guān)心功率模塊的溫升情況,仿真模塊的溫升一般采用三維軟件仿真,或者采用解析的辦法來(lái)做,因此功率模塊的熱阻參數(shù)是非常重要的,穩(wěn)態(tài)熱阻和瞬態(tài)熱阻曲線可以通過(guò)儀器測(cè)試或者仿真得到。實(shí)際上,通過(guò)本文的仿真對(duì)比結(jié)果可以看出,仿真是可以代替測(cè)試的,同時(shí)測(cè)試的儀器一般成本昂貴,不是較大的半導(dǎo)體公司,基本上無(wú)法承受。因此,采用仿真的辦法研究熱阻及其參數(shù),是具有較大的工程意義。


           熱阻測(cè)試原理


          熱阻測(cè)試一般分為兩個(gè)過(guò)程先采K線,簡(jiǎn)單來(lái)說(shuō),K線是表示結(jié)溫與電壓變化的一組對(duì)應(yīng)關(guān)系,后續(xù)儀器可以通過(guò)測(cè)試電壓變化,來(lái)推算結(jié)溫。然后測(cè)試殼溫,做法是給芯片通較大的電流,使其產(chǎn)生損耗,然后通過(guò)熱電偶測(cè)試芯片下的溫度,具體方法如下圖1。這樣得到了結(jié)溫Tj和殼溫Tc,以及所加的功耗P,這樣就可以計(jì)算熱阻。


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          圖1熱阻測(cè)試原理


          瞬態(tài)熱阻原始數(shù)據(jù)獲取辦法,一是可以通過(guò)儀器比如T3ster,見(jiàn)圖2或者Phase11,見(jiàn)圖3測(cè)試功率模塊的瞬態(tài)熱阻(IGBT和FRD的),熱阻測(cè)試完成后,可以輸出瞬態(tài)熱阻曲線如圖4和對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)time和Zth。


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          圖 2  T3Ster熱阻測(cè)試系統(tǒng)

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          圖 3  Phase 11 熱阻測(cè)試系統(tǒng)


          二是可以通過(guò)仿真的辦法進(jìn)行瞬態(tài)熱仿真,得到結(jié)溫Tj和殼溫Tc的結(jié)果后,根據(jù)熱阻的定義,計(jì)算出瞬態(tài)熱阻。


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          圖 4  瞬態(tài)熱阻曲線

          2、熱阻仿真


          2.1建立模型

          以傳統(tǒng)的34mm模塊為例,采用ANSYS Mechanical軟件,根據(jù)一維散熱的原理,建立了仿真模型,模型由芯片,DBC,錫膏,銅基板組成,忽略了鍵合線,硅膠,以及外殼,功率端子和驅(qū)動(dòng)端子,簡(jiǎn)化了圓角與DBC上的孔。建立模型如下。

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          圖 5 熱阻仿真模型

          從橫截面上,功率模塊分為7層:

                                                       

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          6 模型的橫截面


          各層的材料參數(shù)如下:

          表 1  PIM材料參數(shù)

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          2.2載荷與邊界條件定義


          給芯片施加損耗P,要求芯片的結(jié)溫穩(wěn)態(tài)時(shí)達(dá)到140℃左右,銅基板底部設(shè)置對(duì)流換熱,使得熱量從銅基板底部散出來(lái),忽略可能存在的對(duì)流換熱以及輻射散熱。芯片最高溫度點(diǎn)為Tj,銅基板上的芯片正下方的點(diǎn)選為Tc。進(jìn)行瞬態(tài)熱仿真,獲取一組Tj與Tc,采用公式(1),進(jìn)行瞬態(tài)熱阻的計(jì)算。

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          熱阻仿真需要注意的幾點(diǎn):一是真正有源區(qū)面積的確定:硅片上制作有源器件的區(qū)域稱為有源區(qū),也就是有雜質(zhì)注入的地方,包括 P 摻雜區(qū)和 n 摻雜區(qū)等,器件工作時(shí)載流子流過(guò)該區(qū)域產(chǎn)生焦耳熱量;而其他部分是作為切割硅片保留的劃片區(qū)或者隔離區(qū),沒(méi)有或者很少產(chǎn)生熱量。因此,有源區(qū)是真正發(fā)熱的部分。對(duì)于高壓的器件,建模過(guò)程中需要關(guān)注有源區(qū)的影響,因?yàn)椴话l(fā)熱的面積占比較大,排除了不發(fā)熱的面積,仿真結(jié)果會(huì)與實(shí)際更接近。二是結(jié)溫需要達(dá)到140℃左右,與實(shí)際測(cè)試熱阻的結(jié)溫接近,因?yàn)镾I在高溫下導(dǎo)熱系數(shù)會(huì)降低。詳情見(jiàn)參數(shù)表1。


            2.3熱阻計(jì)算


            根據(jù)瞬態(tài)熱阻計(jì)算理論,瞬態(tài)熱阻先計(jì)算出脈沖占空比δ=0的時(shí)候的瞬態(tài)熱阻,其他占空比的瞬態(tài)熱阻根據(jù)下面的公式計(jì)算出。圖6是仿真與實(shí)際測(cè)試結(jié)果對(duì)比,精度還是很高的。

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          (2)Z_(θ(tp))是占空比δ=0時(shí)候的瞬態(tài)熱阻。

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          圖 6 瞬態(tài)熱阻對(duì)比(實(shí)線為仿真值,虛線為測(cè)試值,顏色一致者為一組)


          3、參數(shù)提取


          瞬態(tài)熱阻曲線可以用熱網(wǎng)絡(luò)模型來(lái)表示,比如4階的Foster模型,見(jiàn)圖7. Foster模型可以用如下方程(3)表示。對(duì)于4階的Foster模型,可以瞬態(tài)熱阻可以用如下方程(3)表示,因此這里產(chǎn)生了8個(gè)未知數(shù)。R1、R2、R3、R4和C1、C2、C3、C4。通過(guò)算法,可以提取這8個(gè)未知數(shù)。

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          圖 7  4階的Foster模型


          可以采用幾種方法確定這8個(gè)參數(shù),一是最優(yōu)化求解方法,二是最解8元一次方程組,三是曲線擬合,這些在MATLAB中很方便實(shí)現(xiàn)。其中最優(yōu)化方法如下,通過(guò)求解下面函數(shù)的最優(yōu)解:

          min:R_1 (1-e^((-t)/R1C1) )+R_2 (1-e^((-t)/R2C2) )+R_3 (1-e^((-t)/R3C3) )+R_4 (1-e^((-t)/R4C4) )-Zth(t) 

          上述最優(yōu)解求解方法有蟻群算法,遺傳算法等方法,本計(jì)算方法采用蟻群算法進(jìn)行,算法在最終收斂時(shí),R1、R2、R3、R4和C1、C2、C3、C4也收斂到一個(gè)合理的值,也就是提取出了瞬態(tài)熱阻的參數(shù)R_i與C_i。利用這種成熟的優(yōu)化算法,具有較強(qiáng)的適應(yīng)性和魯棒性。

          圖8對(duì)比是通過(guò)本方法進(jìn)行參數(shù)提取后,根據(jù)如下方程計(jì)算出的熱阻和實(shí)際測(cè)試熱阻的對(duì)比,提取的瞬態(tài)熱阻與測(cè)試的熱阻能夠完全重合,滿足工程和應(yīng)用的要求。


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          圖 8 模型的仿真結(jié)果

          4、總結(jié)

          本文通過(guò)仿真的辦法準(zhǔn)確模塊的熱阻及其參數(shù),具有高精度、高效率、低成本等特點(diǎn),本文提出的方法還可以適應(yīng)LED、激光器、射頻、IC等行業(yè)的封裝熱阻問(wèn)題。


          • 投稿作者:Paul,高級(jí)研發(fā)工程師

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