3月18日，貝思科爾William為我們講解《基于T3Ster的MOSFET熱特性測試與建模應(yīng)用最佳實踐》，課程主要圍繞以下三點進行講解：
1、封裝熱基礎(chǔ)與電壓法量測；
2、MOSFET測試案例與要點；
3、MOSFET熱建模最佳實踐。
課程在線視頻：
若需本場PPT資料或者更多技術(shù)資料，請聯(lián)系貝思科爾，發(fā)需求至sales@basicae.com，我們會第一時間回應(yīng)您，謝謝！
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